Namur-Empfehlung NE183 definiert Anforderungen an M+O-Sensoren
M+O (Monitoring + Optimization) -Sensoren dienen der Erfassung zusätzlicher Informationen einer Anlage und können so zur Verbesserung und Optimierung des Produktionsprozesses beitragen.
M+C (Measurement + Control) -Sensoren erhobene Daten mit denen der Zusatz-Sensoriken, den M+O-Sensoren, kombiniert. Die M+O-Sensoren übernehmen dabei insbesondere keinerlei kritische oder sicherheitsrelevante Aufgaben weshalb hier, im Sinne der Kostenoptimierung, verminderte Anforderungen an die jeweiligen Sensoriken gestellt werden können im Vergleich zu konventionellen Sensorlösungen. Mithilfe des NOA (Namur Open Architecture nach NE175) -Konzepts können M+O-Sensoren einfach, parallel und herstellerneutral in bestehende Systeme integriert werden.
Diese Namur-Empfehlung rekapituliert zunächst das NOA-Konzept und definiert Ziele und Anwendungsbereiche der neuen Klasse der M+O-Sensoren. Dabei wird insbesondere noch einmal hervorgehoben, dass M+O-Sensoren sowohl in Neu- aber auch in Bestandsanlagen zum Einsatz kommen können. Im weiteren Verlauf werden die Anforderungen an M+O-Sensoren in sogenannte „Muss“- und „Kann“-Anforderungen eingeteilt. Während erstere als obligatorisch gelten sollen, sind letztere als „wünschenswert“ oder „vorteilhaft“ zu werten.
In einem Abschließenden Absatz geht die Namur-Empfehlung noch einmal auf Anforderungen ein, welche explizit nicht von M+O-Sensoriken erwartet werden. Dies schließt einen logischen Kreis zu den angestrebten kosteneffizienten Lösungen für M+O-Sensoren, welche im Anwendungsbereich betitelt werden.
